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一、概述; SZT-4硅材料復合測試儀，是由二種硅材料測試儀器組合而成的 1、二量程的電阻測量儀器，配以手持式四針測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率 在0.01~200歐姆/厘范圍內的半導體材料。通過對恒流源的調整，可以對某些測量結果進行修整，例如對普通硅材料的測試結果要乘以0.628的探險頭修正系數，對硅材料薄層擴散和導電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數為4.53等均可通過調正恒流電流加以處理。 SZT－4數字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重煉回料的分選。
2、整流法硅材料P-N極性判別儀，配有三針手持式探頭，能對片狀或塊狀電阻率在1000-0.01歐姆/厘米的。硅材料進行極性判別 本儀器工作環境條件為： 溫 度：18℃―25℃ 相對濕度：50%－70% 工作室內應無強電場干擾，不與高頻設備共用電源。
二、技術參數
1、測量范圍 (1)電阻率測量： 電 阻 率 0.01-200Ω-cm 方塊電阻 0.01-200Ω-口 電 阻 0.01-200.0Ω
2、數字電壓表 (1)量 程: 200mV單一量程 (2)誤 差: 讀數 ±0.2%±3字 (3)輸入電阻: >10MΩ
3、恒 流 源 (1)電流輸出: 0~10mA連續可調 (2)量 程: 1mA, 10mA (3)誤 差: ±0.2%±3字,
4、手持式四探針測試頭 (a)探 針 間 距:1mm (b)探針機械游移率:±1.0% (c)探 針 材 料:碳化鎢,φ0. (d)壓力:最大 2Kg (2)導電類型判別： 可對電阻率為1000-.0.01歐姆/厘米的硅材料作導電類型測定，同時可以聲，光報警方式表示被測材料屬于”重摻”。
